本發(fā)明提供了弧光傳感器及弧光探測方法，該弧光探測包括：第一起偏器、第二起偏器、磁光材料、第一光過濾器及處理單元；第一起偏器，用于對入射的第一目標(biāo)光進(jìn)行偏振化處理，形成在第一偏振方向上的第一偏振光；第二起偏器，用于對入射的第二目標(biāo)光進(jìn)行偏振化處理，形成在第一偏振方向上的第二偏振光；磁光材料，處于電流磁場中，利用電流磁場對第一偏振光的偏振方向進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，形成第三偏振光；第一光過濾器，用于對第三偏振光進(jìn)行過濾，形成能夠在第二偏振方向上通過的第四偏振光；處理單元，用于根據(jù)第二偏振光的強度及第四偏振光的強度，確定第二目標(biāo)光是否為弧光。本方案能夠提高弧光傳感器的抗干擾性能。

1.弧光傳感器，其特征在于，包括：第一起偏器(101)、第二起偏器(102)、磁光材料(103)、第一光過濾器(104)及處理單元(105)；所述第一起偏器(101)，用于對入射的第一目標(biāo)光進(jìn)行偏振化處理，形成在第一偏振方向上的第一偏振光，并將所述第一偏振光傳輸給所述磁光材料(103)；所述第二起偏器(102)，用于對入射的第二目標(biāo)光進(jìn)行偏振化處理，形成在所述第一偏振方向上的第二偏振光；所述磁光材料(103)，處于電流磁場中，利用所述電流磁場對所述第一偏振光的偏振方向進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，形成第三偏振光，并將所述第三偏振光傳輸給所述第一光過濾器(104)；所述第一光過濾器(104)，用于對所述第三偏振光進(jìn)行過濾，形成能夠在第二偏振方向上通過的第四偏振光；所述處理單元(105)，用于根據(jù)所述第二偏振光的強度及所述第四偏振光的強度，確定所述第二目標(biāo)光是否為弧光。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的弧光傳感器，其特征在于，所述第一偏振方向與所述第二偏振方向相垂直。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的弧光傳感器，其特征在于，所述處理單元(105)，用于根據(jù)所述第四偏振光與所述第二偏振光的強度比值，確定所述第二目標(biāo)光是否為弧光。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的弧光傳感器，其特征在于，當(dāng)所述第一目標(biāo)光與所述第二目標(biāo)光為同一光源發(fā)射的光時，進(jìn)一步包括：第一光檢測器(201)及第二光檢測器(202)；所述第一光檢測器(201)，用于獲取所述第一光過濾器(104)形成的所述第四偏振光，對所述第四偏振光的強度進(jìn)行檢測，并將所述第四偏振光的強度發(fā)送給所述處理單元(105)；所述第二光檢測器(202)，用于獲取所述第二起偏器(102)形成的所述第二偏振光，對所述第二偏振光的強度進(jìn)行檢測，并將所述第二偏振光的強度發(fā)送給所述處理單元(105)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的弧光傳感器，其特征在于，當(dāng)所述第一目標(biāo)光與所述第二目標(biāo)光為不同光源發(fā)射的光時，進(jìn)一步包括：固定光源(301)、耦合單元(302)、分光器(303)及第二光過濾器(304)；所述固定光源(301)，用于向所述第一起偏器(101)發(fā)射所述第一目標(biāo)光；所述耦合單元(302)，分別與所述第二起偏器(102)、所述磁光材料(103)及所述分光器(303)相連，用于將所述第二起偏器(102)形成的所述第二偏振光與所述磁光材料(103)形成的所述第三偏振光耦合到一起，并將耦合后的光傳輸給所述分光器(303)；所述分光器(303)，分別與所述第一光過濾器(104)及所述第二光過濾器(304)相連，用于將所述耦合后的光分為兩束耦合光，將其中的第一耦合光傳輸給所述第一光過濾器(104)，將其中的第二耦合光傳輸給所述第二光過濾器(304)；所述第一光過濾器(104)，進(jìn)一步用于對所述第一耦合光中的所述第二偏振光進(jìn)行過濾，將能夠在所述第二偏振化方向上通過的所述第二偏振光作為所述第四偏振光的一部分，并輸出所述第四偏振光；所述第二光過濾器(304)，用于對所述第二耦合光中的所述第三偏振光進(jìn)行過濾，將能夠在所述第一偏振化方向上通過的所述第三偏振光作為所述第二偏振光的一部分，并輸出所述第二偏振光。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的弧光傳感器，其特征在于，所述處理單元(105)，進(jìn)一步用于根據(jù)所述第二偏振光的強度，判斷所述固定光源(301)至所述處理單元(105)之間的光通信線路是否連通。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的弧光傳感器，其特征在于，進(jìn)一步包括：第三光檢測器(401)和第四光檢測器(402)；所述第三光檢測器(401)，用于獲取所述第一光過濾器(104)輸出的所述第四偏振光，對所述第四偏振光的強度進(jìn)行檢測，并將所述第四偏振光的強度發(fā)送給所述處理單元(105)；所述第四光檢測器(402)，用于獲取所述第二光過濾器(304)輸出的所述第二偏振光，對所述第二偏振光的強度進(jìn)行檢測，并將所述第二偏振光的強度發(fā)送給所述處理單元(105)。8.弧光探測的方法，其特征在于，包括：S1：對入射的第一目標(biāo)光進(jìn)行偏振化處理，形成在第一偏振化方向上的第一偏振光；S2：對入射的第二目標(biāo)光進(jìn)行偏振化處理，形成在所述第一偏振化方向上的第二偏振光；S3：利用電流磁場對所述第一偏振光的偏振方向進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，形成第三偏振光；S4：對所述第三偏振光進(jìn)行過濾，形成能夠在第二偏振方向上通過的第四偏振光；S5：根據(jù)所述第二偏振光的強度及所述第四偏振光的強度，確定所述第二目標(biāo)光是否為弧光。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述步驟S5包括：根據(jù)所述第四偏振光與所述第二偏振光的強度比值，確定所述第二目標(biāo)光是否為弧光。10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，在步驟S1之前進(jìn)一步包括：通過固定光源發(fā)射所述第一目標(biāo)光；在步驟S3之后，且在步驟S4之前，進(jìn)一步包括：將所述第二偏振光與及所述第三偏振光耦合到一起，將耦合后的光分為兩束耦合光，分別為第一耦合光及第二耦合光；對所述第一耦合光中的所述第二偏振光進(jìn)行過濾，將能夠在所述第二偏振方向上通過的所述第二偏振光作為所述第四偏振光的一部分；對所述第二耦合光中的所述第三偏振光進(jìn)行過濾，將能夠在所述第一偏振化方向上通過的所述第三偏振光作為所述第二偏振光的一部分。