1.一種探針(1)，用于分析流體，所述探針能夠插入到含有待分析
流體的管道(2)內，所述探針包括：
細長主體，該細長主體具有用于連接到管道(2)的壁上的近端以及
布置成設置在管道(2)的內部的遠端，所述細長主體形成測量空間(7)，
待分析的流體被抽吸通過所述測量空間(7)，并且光束通過光學元件(10)
進入所述測量空間(7)用于分析所述流體，
所述探針進一步包括：
探測器(13)；
過濾器(3)；
用于將待分析流體通過所述過濾器(3)抽吸到測量空間(7)內的裝
置(5)；
允許流體以反向吹掃的方式流動通過所述測量空間(7)和所述過濾
器(3)的裝置；以及
用于監測待分析流體通過所述測量空間的流體流量以確定待分析流
體是否被抽吸到所述測量空間(7)內的流量傳感器(16)，
其中所述探測器布置成探測通過所述光學元件進入所述探針、穿過所
述測量空間(7)以及由反射元件從探針的端部被反射回、返回穿過所述
測量空間以及離開所述探針的光束。
2.根據權利要求1所述的探針，所述探針進一步包括用于將校準流
體輸入到探針內的裝置(15)。
3.根據權利要求2所述的探針，其中所述用于將校準流體輸入到探
針內的裝置(15)用作允許流體以反向吹掃的方式流動通過所述測量空間
(7)和所述過濾器(3)的裝置。
4.根據權利要求1所述的探針，其中，進一步包括用于表示校準流
體流量的流量傳感器(17)。
5.根據權利要求1或4所述的探針，其中，所述用于監測待分析流
體通過所述測量空間的流體流量以確定待分析流體是否被抽吸到所述測
量空間(7)內的流量傳感器(16)布置成與通過所述測量空間的待分析
流體流動成一直線。
6.根據權利要求1-4中任一項所述的探針，其中所述過濾器(3)設
置在探針的遠端。
7.根據權利要求1-4中任一項所述的探針，所述探針進一步包括用
于使得光束通過光學元件(10)進入測量空間(7)的光源(9)。
8.根據權利要求7所述的探針，其中所述光束在測量空間(7)內被
反射一次或多次，以形成增加的吸收路徑長度。
9.根據權利要求8所述的探針，其中多個相同或不同波長的光束被
用于測量在測量空間內的相同或不同的目標氣體。
10.根據權利要求1-4中任一項所述的探針，其中安裝擋板罩(4)
以減少由于流體流中的微粒導致的磨損。
11.根據權利要求1-4中任一項所述的探針，其中沿探針安裝的多個
傳感器允許補償周圍環境在壓力或溫度上的變化。
12.根據權利要求1-4中任一項所述的探針，其中通過使用加熱或冷
卻系統沿探針的長度進行適當的溫度控制，將所述探針維持在設定溫度。
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