1.一種電磁場測量方法，包括：設置步驟，為了測量電場或者磁場，在空間設置第一探針以及第二探針；第一乘法步驟，將在所述第一探針獲得的信號與參考信號發生器生成的參考信號相乘；第二乘法步驟，將所述第一乘法步驟獲得的信號與在所述第二探針獲得的信號相乘；以及同步檢波步驟，從所述第二乘法步驟獲得的信號中，提取與所述參考信號發生器生成的參考信號同步的信號成分。2.如權利要求1所述的電磁場測量方法，在所述設置步驟中，以所述第二探針固定在所述空間的狀態下，使所述第一探針移動，依次設置到所述空間中的多個測量點，在所述設置步驟中所述第一探針每設置在所述多個測量點中的一個測量點時，均執行所述第一乘法步驟、所述第二乘法步驟以及所述同步檢波步驟。3.如權利要求1所述的電磁場測量方法，在所述設置步驟中，以所述第一探針與所述第二探針的間隔固定的狀態下，使所述第一探針以及所述第二探針一起移動，依次設置到所述空間中的多個測量點，在所述設置步驟中所述第一探針以及所述第二探針每設置在所述多個測量點中的一個測量點時，均執行所述第一乘法步驟、所述第二乘法步驟以及所述同步檢波步驟。4.如權利要求3所述的電磁場測量方法，在所述設置步驟中，以當前的測量點的所述第一探針以及所述第二探針的一方的位置與下一個測量點的所述第一探針以及所述第二探針的另一方的位置一致的方式，使所述第一探針以及所述第二探針一起移動。5.如權利要求3所述的電磁場測量方法，在所述設置步驟中，以所述第一探針以及所述第二探針的一方依次位于將規定時刻的所述第一探針與所述第二探針的間隔進行分割而得到的多個位置的每一個位置的方式，使所述第一探針以及所述第二探針一起移動。6.如權利要求3所述的電磁場測量方法，所述電磁場測量方法還包括偏移相位算出步驟，將在所述第一探針獲得的信號與所述參考信號相乘，將獲得的信號與在所述第一探針獲得的信號相乘，從獲得的信號中提取與所述參考信號同步的信號成分，從而算出所述參考信號的偏移相位。7.如權利要求3所述的電磁場測量方法，所述電磁場測量方法還包括偏移相位算出步驟，針對所述多個測量點的一個測量點，在所述設置步驟中的所述第一探針以及所述第二探針的位置調換的狀態下，執行所述第一乘法步驟、所述第二乘法步驟以及所述同步檢波步驟，并且將調換前在所述同步檢波步驟提取的信號成分的相位與所述調換后在所述同步檢波步驟提取的信號成分的相位相加，從而算出所述參考信號的偏移相位。8.一種電磁場測量裝置，具備：第一探針以及第二探針，為了測量電場或者磁場，而被設置在空間中；參考信號發生器，生成參考信號；第一乘法器，將在所述第一探針獲得的信號與所述參考信號相乘；第二乘法器，將從所述第一乘法器輸出的信號與在所述第二探針獲得的信號相乘；以及同步檢波器，從所述第二乘法器輸出的信號中，提取與所述參考信號同步的信號成分。9.如權利要求8所述的電磁場測量裝置，所述電磁場測量裝置還具備：第一頻率轉換器，將從所述第一探針輸出的信號的頻率轉換為比該第一探針輸出的信號的頻率低的中頻；以及第二頻率轉換器，將從所述第二探針輸出的信號的頻率轉換為所述中頻，所述第一乘法器，將從所述第一頻率轉換器輸出的信號與所述參考信號相乘，所述第二乘法器，將從所述第一乘法器輸出的信號與從所述第二頻率轉換器輸出的信號相乘。10.如權利要求8所述的電磁場測量裝置，所述電磁場測量裝置還具備濾波器，從所述第一乘法器輸出的信號中，選擇具有如下頻率的信號成分，該頻率是輸入到所述第一乘法器的信號的頻率與所述參考信號的頻率的和或差的頻率，所述第二乘法器，將從所述濾波器輸出的信號與從所述第二探針輸出的信號相乘。11.如權利要求9所述的電磁場測量裝置，所述第一探針以及所述第二探針，輸出與檢測出的電場對應的光信號，所述第一頻率轉換器，將從所述第一探針輸出的光信號轉換為比該光信號的頻率低的中頻的電信號，所述第二頻率轉換器，將從所述第二探針輸出的光信號轉換為所述中頻的電信號，所述第一乘法器，將從所述第一頻率轉換器輸出的電信號與所述參考信號相乘，所述第二乘法器，將從所述第一乘法器輸出的信號與從所述第二頻率轉換器輸出的電信號相乘。12.一種電磁場測量裝置，具備：第一探針以及第二探針，為了測量電場或者磁場，而被設置在空間中；第一模數轉換器，將在所述第一探針獲得的信號轉換為數字值；第二模數轉換器，將在所述第二探針獲得的信號轉換為數字值；以及計算機裝置，對從所述第一模數轉換器以及所述第二模數轉換器輸出的信號進行處理，所述計算機裝置執行如下步驟：第一乘法步驟，將從所述第一模數轉換器輸出的信號與參考信號相乘；第二乘法步驟，將在所述第一乘法步驟獲得的信號與從所述第二模數轉換器輸出的信號相乘；以及同步檢波步驟，從在所述第二乘法步驟獲得的信號中，提取與所述參考信號同步的信號成分。13.一種計算機能夠讀取的記錄介質，該記錄介質中記錄了程序，該程序包括權利要求12所述的計算機裝置執行的步驟。14.一種相位成像裝置，測量電磁波針對對象物透射或反射時的所述電磁波的相位移動量并進行圖像化，所述相位成像裝置具備：電磁波源，射出電磁波；光學裝置，將從所述電磁波源射出的電磁波，分成第一電磁波以及第二電磁波；機構部，以在所述光學裝置分成的所述第一電磁波以及所述第二電磁波中，只有所述第一電磁波針對所述對象物的二維狀的多個測量點依次掃描并射入的方式，改變所述對象物與所述第一電磁波的相對的位置關系；權利要求8至12的任一項所述的電磁場測量裝置，針對所述多個測量點的每一個測量點，測量針對所述對象物透射或反射的所述第一電磁波與針對所述對象物沒有透射或反射的所述第二電磁波的相位差；以及圖像化裝置，將所述電磁場測量裝置測量的相位差與所述多個測量點建立對應地進行圖像化，所述電磁場測量裝置，利用該電磁場測量裝置具備的第一探針以及第二探針，分別檢測所述第一電磁波以及所述第二電磁波，所述圖像化裝置，將所述電磁場測量裝置具備的同步檢波器提取的信號成分的相位，作為所述相位差進行圖像化。
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