測試系統包括端接于探針中的通信信道，該探針接觸待測電子器件的輸入端。電阻器連接在探針附近的通信信道與接地之間。該電阻器可減小該端的輸入阻抗，由此可減小輸入端的上升時間和下降時間。信道可以端接在具有多個路徑的分支中，其中各個路徑是由用于接觸待測電子器件各端的探針來端接的。這些分支中包括隔離電阻器，用于防止一個輸入端的故障傳播到其它輸入端。各分支中都設有分流電阻器，用于減小該端的輸入阻抗，由此減小輸入端的上升時間和下降時間。還可以調整分流電阻器的大小，以減少、最小化或者消除通過該信道所返回的信號反射。

1.一種在測試機與待測電子器件之間交互測試信號的裝置，所述裝置包括：結構；多個信道端子，所述信道端子設置在所述結構上并且被配置成與來自所述測試機的通信信道電連接；多個探針，所述探針設置在所述結構上并且被配置成接觸所述電子器件的測試特征；多個驅動信道，所述驅動信道將一些信道端子與一些探針連接起來；以及多個分流電阻器，所述分流電阻器設置在所述結構上，每個所述分流電阻器直接連接到所述驅動信道之一，其中所述驅動信道中至少一個包括多個分支，每個所述分支電連接到所述信道端子之一，每個所述分支端接在所述探針的不同的一個，每個所述分支包括設置在所述信道端子和所述分支端接在其中的探針之間的分支中的隔離電阻器，以及每個所述分支通過所述分流電阻器之一從設置在所述分支中的所述隔離電阻器和所述分支端接在其中的所述探針之間電連接到接地。2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述分流電阻器是薄膜電阻器。3.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述結構包括第一基板且所述探針設置在所述第一基板上。4.如權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述分流電阻器設置在所述第一基板上。5.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述分流電阻器是薄膜電阻器。6.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述探針和所述分流電阻器都設置在所述第一基板的第一表面上。7.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述分流電阻器設置在所述第一基板之內。8.如權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述結構進一步包括第二基板且所述信道端子設置在所述第二基板上。9.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述隔離電阻器設置在所述第一基板上。10.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述分流電阻器是薄膜電阻器，并且所述隔離電阻器是設置在所述第一基板上的薄膜電阻器。11.一種適用于測試包括多個輸入端的電子器件的方法，每個所述輸入端包含電容，該方法用于包括測試機和端接于探針中的多個驅動信道的測試系統中，所述方法包括：提供多個驅動器，每個所述驅動器連接至所述驅動信道之一；提供多個分流電阻器，每個所述分流電阻器設置在所述驅動信道之一中的探針末端處并連接著接地；使所述探針與所述輸入端接觸，每個所述驅動信道通過所述探針之一連接至一個所述輸入端；利用開關將所述多個分流電阻器連接到一些驅動信道，其中所述開關被配置成有選擇地將所述分流電阻器與所述一些驅動信道連接和斷開；通過所述一些驅動信道將來自所述測試機的測試信號提供給所述電子器件，以執行所述電子器件的高頻功能性測試；利用所述開關以斷開所述分流電阻器和所述一些驅動信道；以及當所述分流電阻器與所述一些驅動信道斷開時，通過所述驅動信道提供第二測試信號，以執行所述電子器件的參數檢驗。12.如權利要求11所述的方法，其特征在于，所述分流電阻器被配置成提高從所述測試機通過所述一些驅動信道將所述測試信號提供給所述電子器件所處的頻率。13.如權利要求11所述的方法，其特征在于，所述分流電阻器減小所述輸入端的上升時間。14.如權利要求13所述的方法，其特征在于，所述分流電阻器減小所述輸入端的下降時間。15.如權利要求13所述的方法，其特征在于，所述分流電阻器連接到所述一些驅動信道，每個所述分流電阻器都提供在所述驅動信道之一與接地之間的電阻性電路徑。